1. Thermoreflectance Technique for Thermal Properties Measurement of Micro/Nanoscale Cantilever Beams

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Electrical engineering,Applied sciences;Heat capacity;Pump probe;Silicon;Thermal conductivity;Thermoreflectance;Thin film